LGA72パワーチップは、電子システムの「エネルギーの心臓部」として、電力変換という中核的な役割を担っており、その信頼性は最終機器の動作安定性と寿命を直接左右します。このテストソケットは、産業オートメーション機器、5G通信基地局、新エネルギー車用オンボードコンピューター/バッテリー管理システム、医療用電子機器など、様々な分野のパワーチップのHTOL（高温長時間負荷試験）およびHAST（高温高負荷試験）信頼性試験に適しています。HTOL試験では、通常125℃～150℃で2000時間の連続動作が求められ、HAST試験では、110℃/85%RHの高湿度環境下でチップの耐湿性を検証する必要があります。このテストソケットは、低抵抗コンタクトと耐高温設計により、極限ストレス下でもパワーチップの正確な試験を可能にし、最終顧客の無欠陥納品目標達成を支援します。

① 本体材質：PEEKセラミック/トルロン/PEIなどのエンジニアリングプラスチック。-55℃～175℃の極端な温度範囲で耐熱性を発揮します。

② プローブ材質：ベリリウム銅合金に金メッキを施し、接点には厚膜金メッキ層を採用。低接触抵抗で高い信頼性を実現しています。

③ 金メッキ厚：プローブ接点に厚膜電気メッキを施し、超低接触抵抗を実現。高温・低温環境下での長期ストレス試験に適しています。

④ 耐用年数：1000時間×5サイクル以上。HTOL/HAST/バーンインなどの量産ラインにおける連続信頼性試験に適しています。

⑤ 接触抵抗：50mΩ以下。高電流・高湿度環境下でも正確な信号伝送を保証します。