テストシーン
チップ応用シーン
全 29 製品
ATE(FT/SLT) 機能テスト
KLD-ATE/SLT-BGA2352
BGA2532 AI（AIチップ用）
≤30mΩ
接触抵抗
500K
使用寿命
Change Kit
KLD-QFN-4x4-8SITE
カスタマイズされた KLD-QFN-4x4-8SITE-KIT
接触抵抗
使用寿命
信頼性テスト
KLD-LGA72 BI Socket
LGA72 AI電源高信頼性エイジングソケット
≤50mΩ
接触抵抗
≥1000HX5轮
使用寿命
ATE(FT/SLT) 機能テスト
KLD-ATE-BGA1024_1.0
BGA1024 ATEテストソケット
≤50mΩ
接触抵抗
500K
使用寿命
Change Kit
定制型KLD-BGA2.9x6.7-8SITE
定制型KLD-BGA2.9x6.7-8SITE
接触抵抗
使用寿命
信頼性テスト
KLD-IR
赤外線検出器チップテストソケット
≤50mΩ
接触抵抗
30K
使用寿命