テストシーン
チップ応用シーン
全 6 製品
ATE(FT/SLT) 機能テスト
定制型KLD-QFN32-ATE
定制型KLD-QFN32-ATE
≤50mΩ
接触抵抗
300K
使用寿命
ATE(FT/SLT) 機能テスト
定制型KLD-QFN24-ATE
定制型KLD-QFN24-ATE
≤50mΩ
接触抵抗
300K
使用寿命

ATE(FT/SLT) 機能テスト
定制型KLD-QFN48-ATE
定制型KLD-QFN48-ATE
≤50mΩ
接触抵抗
300K
使用寿命

ATE(FT/SLT) 機能テスト
定制型KLD-QFN76-ATE
定制型KLD-QFN76-ATE
≤50mΩ
接触抵抗
300K
使用寿命

ATE(FT/SLT) 機能テスト
定制型KLD-光模块-ATE
定制型KLD-光模块-ATE
≤20mΩ
接触抵抗
300K
使用寿命

ATE(FT/SLT) 機能テスト
定制型KLD-LQFP64-ATE
定制型KLD-LQFP64-ATE
接触抵抗
使用寿命