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红外探测器测试座定制方案|解决非制冷红外芯片高低温量产测试难题
2026-08-02 KLD Technology 0
红外探测器测试座定制方案|解决非制冷红外芯片高低温量产测试难题
随着红外成像、车载夜视、工业测温、安防光电行业快速发展,红外焦平面探测器、非制冷红外探测芯片的测试精度与稳定性要求持续提升。这类光电芯片多采用陶瓷、金属专业封装,依靠精密阵列感光结构工作,对测试座的光路通透度、探针对位精度、环境适应性要求极高,普通测试夹具极易出现误测、接触不良、良率偏低等问题。
作为专业半导体测试座厂家,凯力迪科技深耕光电芯片测试领域,针对红外探针器测试场景推出专用红外探测器测试座。产品适配各类红外焦平面阵列、光电探测芯片的研发验证、高低温筛选、ATE量产测试等全流程场景。依托精准定制、超高精度、超高良率、性能稳定、专业技术服务五大核心优势,可根据芯片封装结构、阵列排布与光学测试需求个性化开模定制,兼顾光路通透与电气信号传输,大幅降低测试误差。
凯力迪始终以高稳定测试接口方案服务光电芯片设计企业与封测厂商,有效提升红外芯片量产测试效率与成品良率,为光电半导体可靠性测试提供可靠保障。
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