测试场景
芯片应用场景
共 29 款产品
ATE(FT/SLT)测试座
KLD-ATE/SLT-BGA2352
BGA2532 ATE/SLT测试座
≤30mΩ
接触电阻
500K
使用寿命
Change Kit
KLD-QFN-4x4-8SITE
定制型KLD-QFN-4x4-8SITE-KIT
接触电阻
使用寿命
可靠性测试
KLD-LGA72 BI Socket
LGA72 AI电源 高可靠老化座
≤50mΩ
接触电阻
≥1000HX5轮
使用寿命
ATE(FT/SLT)测试座
KLD-ATE-BGA1024_1.0
BGA1024_1.0 ATE 测试座
≤50mΩ
接触电阻
500K
使用寿命
Change Kit
定制型KLD-BGA2.9x6.7-8SITE
定制型KLD-BGA2.9x6.7-8SITE
接触电阻
使用寿命
可靠性测试
KLD-IR
红外探测器芯片测试座
≤50mΩ
接触电阻
30K
使用寿命