KLD-H100测试夹具
H100测试夹具的核心应用场景 **深圳市凯力迪科技有限公司**成立于2013年，是一家专注于半导体电路接口测试产品研发与生产的技术型企业，提供从芯片设计验证到量产测试的全流程服务。 英伟达H100 GPU基于Hopper架构，集成800亿晶体管和HBM3高带宽显存，是**AI大模型训练、推理加速、高性能计算**领域的标杆产品。然而，受美国出口管制影响，中国市场对H100的获取受阻，**翻新（Refurbished）与二手（Used）H100市场应运而生**。在这一背景下，H100芯片测试夹具成为**返新市场质量验证的核心工具**——用于对回流市场的H100进行**功能验证、性能测试、老化筛选**，确保芯片在二次使用时算力与可靠性达标。
| 接触电阻 | ≤50mΩ |
| 使用寿命 | 500K |
产品详情
基于凯力迪在定制测试座领域的积累，其H100测试夹具具备以下核心特点：
1. **高密度BGA信号采集**：H100采用复杂的BGA封装，信号引脚密集。测试夹具需配置**高精度同轴探针**，支持**0.35mm级超细间距**信号传输，确保HBM3（带宽3.35TB/s）高速信号无失真，阻抗匹配精度可达±5%。
2. **极端工况模拟能力**：H100在满载测试时功耗高达**700W**，核心温度需控制在105℃以下。凯力迪定制的老化测试座可支持**-55℃至150℃**宽温域循环测试，内置热电偶实时监测芯片结温与功耗曲线，定位故障至引脚级。
3. **多协议兼容与互联验证**：H100支持**NVLink 4.0（900GB/s）**与**PCIe 5.0**高速互联。测试夹具需集成对应接口，实现多卡集群通信效率验证，确保单跳延迟<1μs、带宽利用率>90%。
4. **大电流承载与散热设计**：H100核心最大电流约**823A**，测试夹具需具备**高载流能力**与**一体化散热结构**设计，防止长时间高负载测试下因热量积聚导致探针接触电阻增加（温度每升高10℃，接触电阻增加约5%）和测试数据漂移。
5. **可更换探针与维护便利性**：测试探针支持**单独更换**，当探针达到使用寿命时无需报废整个夹具，大幅降低返新市场批量测试场景下的后期维护成本。
