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可靠性测试

KLD-IR

红外探测器芯片测试座 ‖ 凯力迪科技 适配红外焦平面、非制冷红外探测器芯片研发与量产测试 ✅精准定制 ✅超高精度 ✅超高良率 ✅稳定可靠 ✅专业技术服务 兼顾光学通路与电学信号传输,支持高低温筛选、ATE 量产测试

适用封装类型
技术参数
接触电阻≤50mΩ
使用寿命30K
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