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覆盖 ATE 功能测试与可靠性测试全场景,精准匹配各类芯片封装需求
测试场景
ATE(FT/SLT)测试座
Change Kit
可靠性测试
IC/模组 测试架
芯片应用场景
AI (算力 / 互联 / 电源 / 存储)
汽车电子 (MCU/MEM...)
工规 (MCU/PMU)
消费电子 (MCU/PMIC)
MCU
PMIC
SoC
Memory
ChangeKit (常温/常高温/三温KIT)
共 4 款产品
ATE(FT/SLT)测试座
定制型KLD-QFN32-ATE
定制型KLD-QFN32-ATE测试座
≤50mΩ
接触电阻
300K
使用寿命
ATE(FT/SLT)测试座
定制型KLD-QFN24-ATE
定制型KLD-QFN24-ATE测试座
≤50mΩ
接触电阻
300K
使用寿命
图片占位
ATE(FT/SLT)测试座
定制型KLD-DFN1x1-ATE
定制型KLD-DFN1x1-ATE测试座
接触电阻
使用寿命
图片占位
ATE(FT/SLT)测试座
定制型KLD-QFN开尔文-ATE
定制型KLD-QFN开尔文-ATE测试座
接触电阻
使用寿命