测试场景
芯片应用场景
共 6 款产品
ATE(FT/SLT)测试座
定制型KLD-QFN32-ATE
定制型KLD-QFN32-ATE测试座
≤50mΩ
接触电阻
300K
使用寿命
ATE(FT/SLT)测试座
定制型KLD-QFN24-ATE
定制型KLD-QFN24-ATE测试座
≤50mΩ
接触电阻
300K
使用寿命
ATE(FT/SLT)测试座
定制型KLD-QFN48-ATE
定制型KLD-QFN48-ATE测试座
≤50mΩ
接触电阻
300K
使用寿命
ATE(FT/SLT)测试座
定制型KLD-QFN76-ATE
定制型KLD-QFN76-ATE测试座
≤50mΩ
接触电阻
300K
使用寿命
ATE(FT/SLT)测试座
定制型KLD-光模块-ATE
定制型KLD-光模块-ATE测试座
≤20mΩ
接触电阻
300K
使用寿命
ATE(FT/SLT)测试座
定制型KLD-LQFP64-ATE
定制型KLD-LQFP64-ATE测试座
接触电阻
使用寿命