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KLDテクノロジー、次世代ATEテストシステムを発表

2024-01-15 KLD Technology 0
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製品発表

2024年1月15日、KLDテクノロジーは深セン本社で新製品発表会を開催し、次世代ATEテストシステムKLD-ATE-1000を正式に発表しました。

技術的ブレークスルー

KLD-ATE-1000は最新のテスト技術を採用し、±0.01%のテスト精度を実現し、1024の並列テストチャネルをサポートし、テスト効率を大幅に向上させました。

市場見通し

この製品の発売により、KLDテクノロジーの半導体テスト装置分野でのリーディングポジションがさらに強化され、お客様により優れたテストソリューションを提供します。

半导体ATE