赤外線イメージング、車載用ナイトビジョン、産業用温度計測、セキュリティオプトエレクトロニクス産業の急速な発展に伴い、赤外線焦点面アレイ検出器および非冷却赤外線検出チップのテスト精度と安定性に対する要求はますます高まっています。これらのオプトエレクトロニクスチップは、特殊なセラミックまたは金属パッケージを使用し、高精度アレイ感光構造によって動作します。そのため、テストマウントには光路透過性、プローブアライメント精度、環境適応性といった極めて高い要求が課せられます。従来のテスト治具では、誤検出、接触不良、歩留まり低下といった問題が発生しやすいのが現状です。

半導体テストマウントの専門メーカーであるKailidi Technologyは、オプトエレクトロニクスチップテスト分野における豊富な専門知識を有し、赤外線プローブテストシナリオに特化した赤外線検出器テストマウントを開発しました。本製品は、様々な赤外線焦点面アレイおよびオプトエレクトロニクス検出チップに対応し、研究開発検証、高温・低温スクリーニングからATE量産テストまで、全工程をカバーします。精密なカスタマイズ、超高精度、超高歩留まり、安定した性能、そして専門的な技術サービスという5つのコアメリットを活かし、チップパッケージ構造、アレイ配置、光学テスト要件に合わせてカスタマイズ可能です。光路の透過性と電気信号伝送のバランスを取り、テストエラーを大幅に削減します。

Kailidiは、光電子チップ設計会社、パッケージング・テストメーカーに対し、常に高安定性のテストインターフェースソリューションを提供し、赤外線チップの量産テストの効率と歩留まりを効果的に向上させ、光電子半導体の信頼性テストに確かな保証を提供します。

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