可靠性测试
KLD-LGA72 BI Socket
LGA72电源芯片HTOL/HAST可靠性测试座，面向72焊盘LGA封装电源管理芯片（PMIC）/DC-DC转换器，专门用于高温工作寿命（HTOL）与高加速温湿度应力（HAST）可靠性验证。测试座采用耐高温工程塑料与高精度弹簧探针，在-55℃~175℃宽温域下保持稳定接触，满足工业级、车规级乃至军工级芯片的可靠性测试要求。
适用封装类型
技术参数
| 接触电阻 | ≤50mΩ |
| 使用寿命 | ≥1000HX5轮 |
产品详情
LGA72电源芯片作为电子系统的“能量心脏”，承担电能转换核心职责，其可靠性直接决定终端设备运行稳定性与使用寿命。该测试座适用于工业自动化设备、5G通信基站、新能源汽车OBC/BMS、医疗电子等领域的电源芯片HTOL与HAST可靠性测试。HTOL测试通常要求125℃~150℃、2000小时持续运行，HAST测试需在110℃/85%RH高湿环境中验证芯片防潮性能。测试座通过低阻接触与耐高温设计，保障电源芯片在极端应力下测试精准，助力终端客户实现零缺陷交付目标。
①主体材料：PEEK陶瓷/Torlon/PEI等工程塑料，耐-55℃~175℃极端温度
②探针材质：铍铜合金镀金，触点镀金层加厚，低接触阻抗、高可靠度
③镀金厚度：探针触点加厚电镀，超低接触阻抗，适应长期高低温应力测试
④老化寿命：≥1000HX5轮，适配HTOL/HAST/Burn in 大批量产线连续可靠性测试
⑤接触电阻：≤50mΩ，确保大电流/高湿环境下信号传递准确
