KLD-PLCC-254测试夹具
PLCC-254测试夹具的核心应用场景 PLCC（Plastic Leaded Chip Carrier，带引线的塑料芯片载体） 是一种经典的表面贴装封装形式，其引脚从芯片四周引出并向内弯曲成“J”形。PLCC-254通常指引脚中心距为1.27mm（即0.05英寸，换算为254/100 mm）的封装规格，是PLCC封装家族中的主流标准。这类芯片曾广泛用于工业控制器、通信基站、存储器模块等对可靠性和散热有一定要求的场景。 深圳市凯力迪科技有限公司（成立于2013年）是一家专注于半导体测试解决方案的企业，提供从芯片设计验证到量产测试的全流程服务。针对已停产或在产的PLCC-254封装芯片，凯力迪定制的测试座、老化座或烧录治具，是芯片返新筛选、维修验证及研发调试中的核心工具。通过与ATE测试设备或烧录器配合，该夹具可实现对芯片的**功能验证、老化测试、程序烧录**等操作，确保芯片在二次使用时的性能与可靠性。
| 接触电阻 | ≤50mΩ |
| 使用寿命 | 500K |
产品详情
基于凯力迪在定制测试座领域的积累，其PLCC-254测试夹具具备以下核心特点：
1. 精准适配PLCC封装：专门针对PLCC-254（1.27mm标准间距）封装芯片设计，引脚数可根据具体型号（如32脚、44脚等）定制，确保引脚接触精准无误。
2. 可靠稳定的接触性能：采用手动翻盖式或双扣式结构，操作便捷；上盖IC压板采用旋压式设计，下压平稳，确保芯片压力均匀、不移位。搭配高性能探针，接触电阻可控制在较低水平。
3. 高品质材料与宽温域：采用LCP/PEEK等高性能工程塑料制作，具备出色的耐高温和绝缘性能。工作温度范围可达 -55°C 至 +175°C，能满足从消费级到车规级芯片的测试环境要求。
4. 灵活定制与多场景适用：可根据客户需求定制为测试座、老化座或烧录座，分别用于功能验证、高温老化测试或程序烧录场景。支持将PLCC封装转换为DIP接口，方便连接通用编程器或开发板。
5. 易于维护，成本可控：测试探针支持单独更换，当探针达到使用寿命或意外损坏时，无需报废整个夹具，维护简便，大幅降低了后期的使用与维护成本。
