凯力迪QFN32 ATE量产测试座 · 车规级5大核心

**核心一：全温区稳定性，守护车规三温测试**

车规MCU须通过AEC-Q100严苛的-40℃、25℃、125℃三温测试。主体选用PES/PEI/PEEK高性能工程塑料，工作温度覆盖**-55℃~+175℃**，宽温域下尺寸稳定、绝缘可靠，确保高温与低温测试参数零漂移。

**核心二：超低接触阻抗，信号无损传递**

采用镀金微弹簧探针，接触电阻稳定**≤30mΩ（初始）**，满足车规芯片对微电流与高频信号的精准传递要求，有效杜绝测试附加误差导致的良率误判。

**核心三：热-力匹配设计，应对严苛应力**

QFN32无引脚底部焊盘结构，对接触一致性要求严苛。探针接触压力优化至合理区间（车规级参考5-8g/pin至35g/pin区间），配合浮板设计，确保32个触点一次性稳定接触，适配高温老化与高低温冲击场景。

**核心四：十万次寿命，保障量产连续性**

探针机械寿命**≥10万次**，接触电阻全程低阻稳定，适配自动化分选机量产节拍。可单独更换探针设计，大幅降低维护成本与产线停机风险。

**核心五：全流程适配，数据可追溯**

支持定制化开尔文四线检测，满足精密电阻测量需求。适配主流ATE机台与三温分选设备，提供从封装图纸到量产交付的全流程定制服务，测试数据全程可追溯，助力车规零缺陷目标。