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覆盖 ATE 功能测试与可靠性测试全场景,精准匹配各类芯片封装需求
测试场景
ATE(FT/SLT)测试座
Change Kit
可靠性测试
IC/模组 测试架
芯片应用场景
AI (算力 / 互联 / 电源 / 存储)
算力
互联
电源
存储
汽车电子 (MCU/MEM...)
工规 (MCU/PMU)
消费电子 (MCU/PMIC)
ChangeKit (常温/常高温/三温KIT)
共 3 款产品
ATE(FT/SLT)测试座
KLD-ATE/SLT-BGA2352
BGA2532 ATE/SLT测试座
≤30mΩ
接触电阻
500K
使用寿命
ATE(FT/SLT)测试座
KLD-ATE-BGA1024_1.0
BGA1024_1.0 ATE 测试座
≤50mΩ
接触电阻
500K
使用寿命
ATE(FT/SLT)测试座
定制型KLD-BGA1024-ATE
定制型KLD-BGA1024-ATE
≤30mΩ
接触电阻
500K
使用寿命